Этот заказ уже выполнен на сервисе Автор24
На нашем сайте вы можете заказать учебную работу напрямую у любого из 72000 авторов, не переплачивая агентствам и другим посредникам. Ниже приведен пример уже выполненной работы нашими авторами!
Узнать цену на свою работу

Измерение перемещений в нанотехнологиях

Номер заказа
67028
Предмет
Создан
20 июня 2013
Выполнен
21 июня 2013
Стоимость работы
280
Не получается сделать. Надо срочно сделать реферат по физике. Есть буквально 1 день. Тема работы «Измерение перемещений в нанотехнологиях».
Всего было
18 предложений
Заказчик выбрал автора
Этот заказ уже выполнен на сервисе Автор24
На нашем сайте вы можете заказать учебную работу напрямую у любого из 72000 авторов, не переплачивая агентствам и другим посредникам. Ниже приведен пример уже выполненной работы нашими авторами!
Узнать цену на свой Реферат
Или вы можете купить эту работу...
Страниц: 21
Оригинальность: Неизвестно
280
Не подошла
данная работа?
Вы можете заказать учебную работу
на любую интересующую вас тему
Заказать новую работу

Измерение перемещений в нанотехнологиях
Метрология
Измерение перемещений в нанотехнологии.


Содержание.
1. Введение.
2. Нанометрология.
3. Продвижение линейной шкалы в нанометровый диапазон.
4. История развития метрологии линейных измерений.
5. Первичный эталон единицы длины.
6. Интферометрия – основа измерения длины.
7. Нанометрология линейных измерений и измерений перемещений.
8. Заключение.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ


СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. International Organization for Standardization. // www.iso.org.
2. Postek M.T. Nanometer . Scale Metrology // Proceedings of SPIE. 2002. V. 4608. P. 84.96.
3. Тодуа П.А., и др. Метрологическое обеспечение измерений длины в микрометровом и нанометровом диапазонах и их внедрение в микроэлектронику и нанотехнологию. // Микросистемная техника. 2004. № 1. С. 38.44. № 2. С. 24.39. № 3. С. 25.32.

Обеспечение единства измерений физико-химических параметров и свойств объекта измерения требует привязки соответствующего средства измерения к эталону, воспроизводящему единицу данной физической величины (например, проводимости к эталонному сопротивлению), а в нанотехнологиях в большинстве своем требуется еще и обязательная привязка к базисному эталону единицы длины (рис. 1), в обеспечение «точности попадания в цель». Этим дуализмом не ограничивается уникальность базисного эталона. Если обратить внимание на параметры, то видно, что диапазон измерений длины от единиц нанометров до сотен и более микрометров перекрывает более пяти порядков значений измеряемой величины при точности
Рисунок 1. Метрологический эталонный комплекс и метрологическое обеспечение наноиндустрии.
Фундаментальные иссл Показать все
Автор24 - это фриланс-биржа. Все работы, представленные на сайте, загружены нашими пользователями, которые согласились с правилами размещения работ на ресурсе и обладают всеми необходимыми авторскими правами на данные работы. Скачивая работу вы соглашаетесь с тем что она не будет выдана за свою, а будет использована исключительно как пример или первоисточник с обязательной ссылкой на авторство работы. Если вы правообладатель и считаете что данная работа здесь размещена без вашего разрешения - пожалуйста, заполните форму и мы обязательно удалим ее с сайта. Заполнить форму
Оценим бесплатно
за 10 минут
Эта работа вам не подошла?
У наших авторов вы можете заказать любую учебную работу от 200 руб.
Оформите заказ и авторы начнут откликаться уже через 10 минут!
Заказать реферат